认证信息
高级会员 第 1 年
名 称：中电科风华信息装备股份有限公司认 证：工商信息已核实
访问量：1562
手机网站
扫一扫，手机访问更轻松
产品分类
产品简介
产品描述：SiC晶圆腐蚀后的位错检测设备。设备采用微分干涉相差的光学显微成像技术，可进行全片扫描并采集完整数据，计算并自动统计位错数量与密度，生成位错密度图。
产品参数：
应用范围：SiC衬底切割片、研磨片、抛光片的位错检测分析(经KOH腐蚀)
可测晶片尺寸：标准4,6,8英寸及其它非标尺寸
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类